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探针台工作原理

TCGK-tcwin 灯珠Q&A 发布时间:2024-09-01 12:03:16 浏览量:448

探针台工作原理

探针台是一种用于对集成电路(IC)进行电气测试的设备。它使用微小的探针与 IC 上的焊盘连接,以进行测量和测试。

探针台工作原理

基本原理

探针台的基本工作原理包括以下步骤:

1. 放置器件:将待测 IC 放置在探针台的载台上,该载台通常配备有显微镜和精密定位系统。

2. 对准:使用显微镜和微调旋钮,将 IC 上的焊盘与探针精确对齐。

3. 探测:金属探针从探针台的载头上延伸出来,与 IC 上的焊盘接触,创建电气连接。

4. 测试:使用连接到探针的测试设备,向 IC 应用信号并测量其响应,例如电流、电压或阻抗。

5. 移动:通过使用计算机控制的移动平台,可以在 IC 上移动探针,以测试不同的焊盘和电路路径。

主要组件

探针台的主要组件包括:

  • 载台:固定和定位待测器件的平台。
  • 探针:用于与器件焊盘连接的微小金属导体。
  • 显微镜:用于精确对准探针和焊盘。
  • 定位系统:用于移动探针和器件的计算机控制平台。
  • 测试设备:连接到探针以进行电气测量和测试。

应用

探针台广泛用于 IC 的以下应用:

  • 故障排除:确定 IC 中的缺陷或故障。
  • 功能验证:测试 IC 是否按照设计工作。
  • 性能表征:测量 IC 的电气特性,例如电流消耗、功耗和时序。
  • 晶片探测:直接在晶片上进行测试,无需封装。
  • 失效分析:确定导致 IC 故障的根本原因。
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